深圳市安姆特检测技术有限公司昆山分公司

检测项：石棉 检测样品：电子电气产品及废弃物 标准：散装材料中的石棉检测 ISO/DIS 22262:2007;VDI 3866:2002

机构所在地：江苏省昆山市 更多相关信息>>

中兴通讯股份有限公司材料实验室

检测项：SEM&EDS 检测样品：光发送/接收组件 标准：军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006

检测项：SEM&EDS 检测样品：光发送/接收组件 标准：军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006

检测项：扫描电子显微镜（SEM）检查 检测样品：通信连接器 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

深圳市华测检测技术股份有限公司

检测项：扫描电镜测镀层厚度 检测样品：PCB/PCBA印制板检测 标准：JB/T 7503-1994 金属履盖层横截面厚度扫描电镜测量方法

检测项：微米级长度 检测样品：固体材料表面及界面 标准：GB/T 16594-2008 微米级长度的扫描电镜测量

检测项：成分定性、半定量分析 检测样品：固体材料表面及界面 标准：GB/T 17359-1998 电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

长春汽车材料研究所

检测项：扫描电镜及能谱分析 检测样品：金属和金属制品 标准：GB/T 17359-1998 电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则

检测项：扫描电镜及 能谱分析 检测样品：金属和金属制品 标准：微束分析 能谱法定量分析 GB/T 17359-2012

机构所在地：吉林省长春市 更多相关信息>>

上海华测品标检测技术有限公司

检测项：扫描电镜测镀层厚度 检测样品： 标准：金属履盖层横截面厚度扫描电镜测量方法 JB/T 7503-94

检测项：微米级长度测量 检测样品： 标准：微米级长度的扫描电镜测量方法通则 GB/T 16594-2008

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国工程物理研究院计量测试中心

检测项：扫描电子显微镜(SEM)检查 检测样品： 标准：

检测项：扫描电子显微镜(SEM)检查 检测样品：石英晶体元件 标准：GJB 4027A-2006 《军用电子元器件破坏性物理分析方法 》

检测项：扫描电子显微镜(SEM)检查 检测样品：表面安装和外引线同向引出晶体管、二极管 标准：GJB 4027A-2006 《军用电子元器件破坏性物理分析方法 》

机构所在地：四川省绵阳市 更多相关信息>>

广州市公安局刑事警察支队刑事技术所

检测项：射击残留物 检测样品：微量物证 标准：《射击残留物的SEM/EDX检验》

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

江西省通信产业服务有限公司通信物资检测中心

检测项：氨基脲（SEM) 检测样品：调味品 标准：只测2 干燥失重法

机构所在地：江西省南昌市 更多相关信息>>

山东仙坛股份有限公司技术中心

检测项：呋喃西林代谢物（SEM） 检测样品： 标准：

机构所在地：山东省烟台市 更多相关信息>>

上海材料研究所检测中心

检测项：金相检验 检测样品：金属材料 标准：黄金制品的扫描电镜X射线能谱分析方法 GB/T 17362-2008

检测项：金相检验 检测样品：金属材料 标准：黄金制品的扫描电镜X射线能谱分析方法 GB/T 17362-2008

检测项：硬化层深度 检测样品：金属材料 标准：金属覆盖层横截面厚度扫描电镜测量方法 JB/T 7503-1994

机构所在地：上海市 更多相关信息>>